Nhiệt kế bức xạ quét nhiệt độ thấp Chino IR-E là một thiết bị đo nhiệt độ không tiếp xúc, sử dụng nguyên lý bức xạ hồng ngoại để đo nhiệt độ. Đây là một công cụ hữu ích trong các ứng dụng đo nhiệt độ ở mức độ thấp, phù hợp cho các công việc kiểm tra, giám sát và điều khiển nhiệt độ trong các môi trường công nghiệp, y tế, và nghiên cứu.
Tính năng Nhiệt kế bức xạ quét nhiệt độ thấp Chino IR-E
- Đo nhiệt độ từ xa mà không tiếp xúc vật thể.
- Độ chính xác cao và độ phân giải tốt.
- Thiết kế nhỏ gọn, dễ sử dụng và di động.
- Có thể có các chế độ đo khác nhau như đo điểm đơn, đo liên tục, đo trung bình.
- Có màn hình hiển thị số để dễ dàng đọc kết quả đo.
Thông số kỹ thuật
Model | IR-E |
Xuất xứ | Nhật Bản |
Yếu tố phát hiện | (Loại làm mát) PbSe |
Bước sóng đo | 4μm |
Phạm vi nhiệt độ đo |
PbSe làm mát:
Tiêu chuẩn: 50-300oC, 100-400oC
Tùy chọn: 100-500oC, 150-600oC
PbSe:
Tiêu chuẩn: 200-600oC, 300-800oC, 400-1000oC, 500-1100oC, 600 Tùy chọn ~1200oC
: 500~1200oC, 600~1300oC
|
độ chính xác |
Dưới 400oC: ±4oC
Trên 400oC: ±1% giá trị đo được
|
góc quét | 50° |
Độ phân giải |
400oC trở lên: ±1% giá trị đo được
400oC trở lên: 3oC
|
thời gian đáp ứng |
Tốc độ quét 120μs (phản hồi 90%)
50 lần, hệ số khoảng cách 200
|
Đường kính đo/khoảng cách đo |
Khoảng cách đo tiêu cự di động
: 0,5m đến 10m
Đường kính đo = khoảng cách đo/hệ số
khoảng cách Hệ số khoảng cách: 50, 100, 200, 300
|
tín hiệu đầu ra | 0~1mA DC và tín hiệu đồng bộ hóa hoạt động |
Nguồn cấp | 100V AC (được cung cấp từ hộp rơle) |
sự tiêu thụ năng lượng | Tối đa 10VA |
Kích thước bên ngoài | W450xH120xD225mm |
Trong lượng | Khoảng 12kg |