Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152

Liên hệ

Mã sản phẩm
Mã sản phẩm: LS152
Thương hiệu
Thương hiệu: LinShang
Xuất xứ
Xuất xứ: China
Bảo hành
Bảo hành: 12 Tháng

Tất cả các sản phẩm bán ra tại E-TechMart đều được đảm bảo về chất lượng. Nếu phát hiện sản phẩm fake không đúng hãng sản xuất sẽ được E-Techmart đứng ra giải quyết để bảo đảm quyền lợi khách hàng.

Giới thiệu Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152

Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152 là thiết bị đo chuyên dụng giúp kiểm tra nhanh và chính xác độ dày lớp phủ mỏng trong các quá trình phủ chân không như PVD, CVD và mạ kim loại. Với phương pháp đo không phá hủy, thiết kế nhỏ gọn và kết quả ổn định, LS152 là giải pháp hiệu quả cho kiểm soát chất lượng trong sản xuất và phòng thí nghiệm.

Tính năng Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152

  • Đo độ dày lớp phủ chân không nhanh và chính xác

  • Phù hợp lớp phủ mỏng: PVD, CVD, mạ kim loại

  • Phương pháp đo không phá hủy, không làm hỏng bề mặt

  • Kết quả đo ổn định, độ lặp lại cao

  • Thiết kế nhỏ gọn, cầm tay, dễ thao tác

  • Màn hình hiển thị rõ ràng, dễ đọc

  • Phù hợp cho QC/QA, sản xuất và phòng thí nghiệm

Thông số kỹ thuật

Model  LS152
Xuất xứ China
Nguyên lý đo Quang học, đo độ truyền sáng & độ quang đậm (OD)
Bước đo (Spot size) 5 mm
Dải đo độ truyền sáng (Transmittance) Độ chính xác: ±1%
Độ phân giải truyền sáng 0.005%
Dải đo độ quang đậm (Optical Density) 0.00 OD – 5.00 OD
Độ phân giải OD 0.01 OD (0.00-3.00 OD) / 0.05 OD (3.00-5.00 OD)
Số điểm đo tối đa 45 điểm tùy chọn
Khoảng cách tối thiểu giữa các đầu dò 35 mm (hoặc tối thiểu)
Khoảng cách giữa đèn nguồn & đầu thu 20 mm
Khoảng nhiệt độ hoạt động –10 °C đến +60 °C
Nhiệt độ lưu trữ –20 °C đến +70 °C
Độ ẩm tương đối < 85%, không ngưng tụ
Chu kỳ làm tươi dữ liệu 300 ms (chế độ bình thường); chế độ nhanh: 100 ms
Giao tiếp 2 kênh RS485, chuẩn MODBUS
Nguồn điện AC 220 V / 50 Hz
Kích thước 80 mm (W) × 180 mm (H) × L (chiều dài tùy số điểm đo)

Ứng dụng

Ứng dụng trong công nghệ phủ chân không PVD, CVD

Dùng để đo độ dày lớp phủ mỏng trong các quy trình phủ chân không, giúp kiểm soát độ đồng đều và chất lượng lớp phủ.

Ứng dụng trong ngành quang học

Kiểm tra độ dày lớp phủ quang học trên kính, thấu kính, màn hình, đảm bảo các yêu cầu về truyền sáng và phản xạ.

Ứng dụng trong sản xuất linh kiện điện tử

Đo và đánh giá lớp phủ mỏng trên linh kiện điện tử, bảng mạch, hỗ trợ kiểm soát chất lượng sản phẩm.

Ứng dụng trong phòng thí nghiệm và QC/QA

Phù hợp cho phòng thí nghiệm, bộ phận kiểm tra chất lượng trong nghiên cứu, sản xuất và kiểm định vật liệu.


Ưu điểm

Đo không phá hủy, an toàn cho sản phẩm

Thiết bị đo mà không làm hỏng bề mặt hay ảnh hưởng đến cấu trúc lớp phủ.

Độ chính xác cao, kết quả ổn định

Cho kết quả đo tin cậy, độ lặp lại tốt, đáp ứng yêu cầu kiểm tra nghiêm ngặt.

Thiết kế nhỏ gọn, dễ sử dụng

Kiểu dáng cầm tay, thao tác đơn giản, thuận tiện sử dụng tại hiện trường và trong phòng thí nghiệm.

Giúp nâng cao hiệu quả kiểm soát chất lượng

Hỗ trợ doanh nghiệp giảm lỗi sản phẩm, tối ưu quy trình và nâng cao chất lượng lớp phủ.

Để lại một bình luận

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *

Liên hệ