Giới thiệu Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152
Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152 là thiết bị đo chuyên dụng giúp kiểm tra nhanh và chính xác độ dày lớp phủ mỏng trong các quá trình phủ chân không như PVD, CVD và mạ kim loại. Với phương pháp đo không phá hủy, thiết kế nhỏ gọn và kết quả ổn định, LS152 là giải pháp hiệu quả cho kiểm soát chất lượng trong sản xuất và phòng thí nghiệm.
Tính năng Máy đo độ dày lớp phủ chân không Linshang LS152
-
Đo độ dày lớp phủ chân không nhanh và chính xác
-
Phù hợp lớp phủ mỏng: PVD, CVD, mạ kim loại
-
Phương pháp đo không phá hủy, không làm hỏng bề mặt
-
Kết quả đo ổn định, độ lặp lại cao
-
Thiết kế nhỏ gọn, cầm tay, dễ thao tác
-
Màn hình hiển thị rõ ràng, dễ đọc
-
Phù hợp cho QC/QA, sản xuất và phòng thí nghiệm
Thông số kỹ thuật
| Model | LS152 |
| Xuất xứ | China |
| Nguyên lý đo | Quang học, đo độ truyền sáng & độ quang đậm (OD) |
| Bước đo (Spot size) | 5 mm |
| Dải đo độ truyền sáng (Transmittance) | Độ chính xác: ±1% |
| Độ phân giải truyền sáng | 0.005% |
| Dải đo độ quang đậm (Optical Density) | 0.00 OD – 5.00 OD |
| Độ phân giải OD | 0.01 OD (0.00-3.00 OD) / 0.05 OD (3.00-5.00 OD) |
| Số điểm đo tối đa | 45 điểm tùy chọn |
| Khoảng cách tối thiểu giữa các đầu dò | 35 mm (hoặc tối thiểu) |
| Khoảng cách giữa đèn nguồn & đầu thu | 20 mm |
| Khoảng nhiệt độ hoạt động | –10 °C đến +60 °C |
| Nhiệt độ lưu trữ | –20 °C đến +70 °C |
| Độ ẩm tương đối | < 85%, không ngưng tụ |
| Chu kỳ làm tươi dữ liệu | 300 ms (chế độ bình thường); chế độ nhanh: 100 ms |
| Giao tiếp | 2 kênh RS485, chuẩn MODBUS |
| Nguồn điện | AC 220 V / 50 Hz |
| Kích thước | 80 mm (W) × 180 mm (H) × L (chiều dài tùy số điểm đo) |
Ứng dụng
Ứng dụng trong công nghệ phủ chân không PVD, CVD
Dùng để đo độ dày lớp phủ mỏng trong các quy trình phủ chân không, giúp kiểm soát độ đồng đều và chất lượng lớp phủ.
Ứng dụng trong ngành quang học
Kiểm tra độ dày lớp phủ quang học trên kính, thấu kính, màn hình, đảm bảo các yêu cầu về truyền sáng và phản xạ.
Ứng dụng trong sản xuất linh kiện điện tử
Đo và đánh giá lớp phủ mỏng trên linh kiện điện tử, bảng mạch, hỗ trợ kiểm soát chất lượng sản phẩm.
Ứng dụng trong phòng thí nghiệm và QC/QA
Phù hợp cho phòng thí nghiệm, bộ phận kiểm tra chất lượng trong nghiên cứu, sản xuất và kiểm định vật liệu.
Ưu điểm
Đo không phá hủy, an toàn cho sản phẩm
Thiết bị đo mà không làm hỏng bề mặt hay ảnh hưởng đến cấu trúc lớp phủ.
Độ chính xác cao, kết quả ổn định
Cho kết quả đo tin cậy, độ lặp lại tốt, đáp ứng yêu cầu kiểm tra nghiêm ngặt.
Thiết kế nhỏ gọn, dễ sử dụng
Kiểu dáng cầm tay, thao tác đơn giản, thuận tiện sử dụng tại hiện trường và trong phòng thí nghiệm.
Giúp nâng cao hiệu quả kiểm soát chất lượng
Hỗ trợ doanh nghiệp giảm lỗi sản phẩm, tối ưu quy trình và nâng cao chất lượng lớp phủ.




